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产品分类
产品简介
检测缺陷类别Defect types
l 缺陷尺寸：0.5um or above
l 常规检测：电极异常、外延层脱落、切割道异常、发光区异常、残金、双晶、外延异常
l 深度学习系统与神经网络算法，可以对缺陷类别进行精准分类
l 支持用户定义或协商定制缺陷类别，但增加缺陷类别可能会影响产能
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