昂坤视觉(北京)科技有限公司
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E3200 GaN缺陷检测设备
E3200 GaN缺陷检测设备的图片
参考报价:
面议
品牌:
昂坤视觉
关注度:
27
样本:
暂无
型号:
E3200 GaN缺陷检测设备
产地:
北京
信息完整度:
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暂无
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高级会员 第 1
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E3200是针对GaN 功率器件和HB GaN LED应用,可以检测GaN衬底及PSS基GaN、Si基GaN 和SiC基GaN 等外延片的表面和荧光缺陷,*小检测颗粒81nm。可以检测并区分颗粒(particle)、凹坑(pit)、凸起(bump)、划伤(scratch)、污点(stain)、裂纹(crack)、PL 黑点、PL scratch、PL crystal 缺陷等表面及荧光缺陷。支持4@、6@、8@晶圆检测,具有高产能、检测准确和检出率高的优点。

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